高溫低溫試驗(yàn)箱廠家
- 更新時間：2024-06-07
高溫低溫試驗(yàn)箱廠家產(chǎn)品用途： 又名高低溫老化箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗(yàn)。
| 品牌 | 艾思荔/Asli | 溫度范圍 | -20~+150℃ |
|---|---|---|---|
| 濕度范圍 | 20~98% R.H | 額定電壓 | 220V |
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
高溫低溫試驗(yàn)箱廠家可提供產(chǎn)業(yè)界大型零件、半成品、成品進(jìn)行溫濕度環(huán)境測試，其主要由控制面板、配電盤、保溫庫板、送風(fēng)機(jī)、加熱器、加濕器、冷凍機(jī)組合而成，主要規(guī)格區(qū)分七種標(biāo)準(zhǔn)室內(nèi)尺寸及28種不同條件測試規(guī)范。用離心送風(fēng)方式之水平擴(kuò)散垂直熱交換循環(huán)系統(tǒng)，避免死角使室內(nèi)溫濕度分布均勻。IPC1000控制器可以由RS 232界面與電腦連接，使用者可以在電腦上設(shè)計程序，收集測試資料與記錄，呼叫程序執(zhí)行、遙控機(jī)器開關(guān)機(jī)等功能。發(fā)生異常時，控制器屏幕及時顯示故障情況，切斷電源開關(guān)，并提供故障排除方法。冷凍機(jī)采用歐美進(jìn)口壓縮機(jī)，并使用環(huán)保冷媒，冷凍系統(tǒng)采用二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，并于不同溫域采用不同壓縮機(jī)作功，以增加設(shè)備使用壽命。
高溫低溫試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
1、標(biāo)稱內(nèi)容積：1～100m3 (可定制)
2、溫度范圍：-70℃～+120℃(可定制)
3、升溫時間：-70℃→+150℃≤60 min (可定制)
4、降溫時間：+20℃→-70℃≤60 min (可定制)
5、濕度范圍：20%～98%RH
高溫低溫試驗(yàn)箱冷凍系統(tǒng)：
1、冷凍機(jī)采用進(jìn)口壓縮機(jī)，并使用環(huán)保冷媒(R134A、R404、AR23A)
2、冷凍系統(tǒng)采用采用二元低溫回路系統(tǒng)設(shè)計，并于不同溫域采用不同壓縮機(jī)做功，以增加設(shè)備使用壽命。
3、利用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)內(nèi)溫濕度分布均勻。
4、風(fēng)路循環(huán)采用側(cè)吹出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計，風(fēng)壓、風(fēng)速皆符合試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，并可使開關(guān)瞬間溫濕度回穩(wěn)時間快。
5、升溫、降溫、加濕、除濕系統(tǒng)*獨(dú)立可提高 效率，降低測試成本，增長壽命，降低故障率。
高溫低溫試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 16750—4：2003道路車輛-電氣和電子裝備的環(huán)境條件和試驗(yàn)第4部分：氣候環(huán)境
JIS D 0208（1993）汽車用開關(guān)類的環(huán)境條件和環(huán)境試驗(yàn)通用規(guī)則
VW80101汽車上電氣和電子部件 一般試驗(yàn)條件
UL1703平面光伏電池板的UL安全標(biāo)準(zhǔn)
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GB-T2423、3-2006試驗(yàn)cab：恒定濕熱試驗(yàn)方法_
GB-T2423、4-2008試驗(yàn)Db：交變濕熱(12h＋12h循環(huán))
GB-T2423、34-2005試驗(yàn)Z-AD：溫度-濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GJB150-04-86第04部分：低溫試驗(yàn)
GB-T10592-2008高低溫箱技術(shù)條件
GB-T10586-2006濕熱箱技術(shù)條件
高溫低溫試驗(yàn)箱廠家產(chǎn)品用途：
又名高低溫老化箱用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時的適應(yīng)性試驗(yàn)； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備；特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫循環(huán)試驗(yàn)。
